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半导体模块老化测试夹具
该系列夹具适用于C2型半导体模块的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。产品广泛运用于
航空航天、军工、科研院所、电子、通讯.
产品规格型号:C2型
主要技术指标;
适应环境温度;-55℃—+155℃ 工作电压;DC1200V 探针金层厚度;4umAu:lu(镍金)
数量:订做 包装:标准 价格:商议 发布时间:2008年06月16日 有 效 期:2030年06月16日 |




















