DIP封装集成电路老化测试座

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IC集成电路老化测试座(DIP封装) 该系列插座适用于DIP封装的双列直插式集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯产品型号及规格； IC-8J～IC-40J 主要技术指标；间距；2.54mm 环境温度；-55℃—+155℃ 接触电阻；≤0.01欧工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg 弹片金层厚度；1um镍2um金插拔寿命；高低温状态下插拔寿命；2000-3000次
数量:订做
包装:标准
价格:商议
发布时间:2008年06月16日
有效期:2029年06月10日

老化测试座制造商信息
扬州市广陵区鸿腾电器厂企业LOGO	电　话:86 514 87881291 传　真:86 514 87881291 联系人:黄克鸿先生添加为商业伙伴网址:http://www.oupus.com/Ptcom/hongteng	企业名称:hongteng 会员指数:10 经营模式:生产型主营产品:老化测试插座,老化测试夹具联系地址:中国江苏扬州扬州市维扬区秋雨西路10号冬梅苑15幢6层603室会员评价: 0条发表评价